專利侵權(quán)行為是指行為人違反專利法的規(guī)定，未經(jīng)專利權(quán)人的許可而實(shí)施其專利的行為。“實(shí)施”是指制造、使用、許諾銷售、銷售和進(jìn)口專利產(chǎn)品或者使用專利方法，以及使用、許諾銷售、銷售進(jìn)口依照該專利方法直接獲得的產(chǎn)品。專利權(quán)的保護(hù)范圍以權(quán)利要求書(shū)中記載的權(quán)利要求為準(zhǔn)，說(shuō)明書(shū)可以解釋權(quán)利要求。專利法所保護(hù)專利權(quán)中的技術(shù)方案即是通過(guò)權(quán)利書(shū)加以描述的技術(shù)特征的組合。如果一項(xiàng)發(fā)明創(chuàng)造是在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上完成的，其權(quán)利要求中必定包含現(xiàn)有技術(shù)，專利法所保護(hù)的既不是區(qū)別特征，也不是現(xiàn)有技術(shù)，而是包括在權(quán)利要求中的現(xiàn)有技術(shù)和區(qū)別特征組合而成的完整的方案。因此，在進(jìn)行被指控侵權(quán)的事實(shí)對(duì)比時(shí)，應(yīng)當(dāng)將整個(gè)權(quán)利要求作為對(duì)比對(duì)象，而不是單從權(quán)利要求中拿出區(qū)別特征進(jìn)行對(duì)比，研究二者的異同。判斷侵權(quán)一般按如下步驟作特征分析： （一）分析被控侵權(quán)的方案的技術(shù)特征，并將其與專利方案中獨(dú)立權(quán)利要求中的特征進(jìn)行比較，查驗(yàn)獨(dú)立權(quán)利要求中的全部技術(shù)特征是否被包含在被控侵權(quán)方案中； （二）比較前述所有與獨(dú)立權(quán)利要求相同的技術(shù)特征是否都與專利獨(dú)立權(quán)利要求所述方案具有相同的功能或形式，所有特征間的相互關(guān)系是否相同； （三）判斷所有特征按這種關(guān)系的組合所產(chǎn)生的效果是否相同。如上述的結(jié)論都是肯定的，則構(gòu)成侵權(quán)。 下列行為構(gòu)成對(duì)專利權(quán)的侵犯，但涉及《中華人民共和國(guó)專利法》第六十三條規(guī)定的情形除外： （一）侵權(quán)產(chǎn)品與專利產(chǎn)品或者由專利方法生產(chǎn)的產(chǎn)品相同，而侵權(quán)產(chǎn)品僅僅改變了產(chǎn)品的外形； （二）在專利方法中，僅僅改變了個(gè)別步驟的順序，但結(jié)果相同； （三）產(chǎn)生的結(jié)果相同，只是將其結(jié)構(gòu)作了簡(jiǎn)單的變換或者重新排列組合； （四）產(chǎn)生的結(jié)果相同，只是將受保護(hù)的權(quán)利要求的特征中增加一個(gè)或者幾個(gè)并不重要的組成部分等。對(duì)于外觀設(shè)計(jì)專利，其專利權(quán)的保護(hù)范圍以申請(qǐng)外觀設(shè)計(jì)專利時(shí)所提交的外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品照片或者圖片中所記載的內(nèi)容為準(zhǔn)。對(duì)于照片或者圖片中未能得到表現(xiàn)的特征，即使權(quán)利人的產(chǎn)品上確有該特征，也不屬保護(hù)的范疇。